四川三坐标尺寸测量检测单位

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形位公差检测
零件结构的几何形状和相对位置是由形状公差和位置公差来保证。对某些精度要求较高的零件，不仅需要保证其尺寸公差，而且还要保证其形位公差。
形位公差可为分为形状公差和位置公差。
形状公差包括直线度、平面度、圆度、圆柱度、线轮廓度、面轮廓度。
位置公差包括
定向公差（平行度、垂直度、倾斜度）
定位公差（同轴度、对称度、位置度）
跳动公差（圆跳动、全跳动）
微观尺寸检测
采用布鲁克的3D白光干涉仪、东京精密的2D探针轮廓仪、扫描电子显微镜等国际**精密设备，能为企业提供微米、纳米级别的微观尺寸量测、3D形貌扫描分析、非常规尺寸（如微小部件的R角半径、样品表面异常分析等）以及表面粗糙检测等服务，帮助企业解决一系列产品开发、生产过程中出现的各种异常状况，协助企业管控生产质量。

采用三维扫描仪能够快速地获得扫描物体的点云数据，通过的运用后期软件，就能准确地获得扫描物体的三维实体数据。表面粗糙度是指零件表面上具有较小间距和微小峰谷所形成的微观几何形状误差。是零件表面评定的重要技术指标之一。表面粗糙度是衡量已加工表面质量的重要标志之一，它对零件的耐磨性、耐腐蚀性、疲劳强度和配合性质都有很大影响。影像测量机通过镭射的探照，可轻松测量样品的小孔直径、样品轮廓等较为复杂的尺寸。

表面粗糙度参数含义
Ra评定轮廓算术平均偏差：在一个取样长度内纵坐标值的的算术平均值。
Rz轮廓大高度：在一个取样长度内，大轮廓峰高与低轮廓谷深之间的距离。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十点高度’。）
Rt轮廓总高度：在评定长度内大轮廓峰高和低轮廓谷深之间的距离。（由于评定长度≥取样长度，故Rt≥Rz）
Sa评定表面算术平均偏差:在取样面积内纵坐标的的算术平均值。（3D光学干涉法测量出的面粗糙度，适用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq评定轮廓的均方根差：在一个取样长度内纵坐标的均方根值。
测量方法：探针接触式测量法、光学干涉非接触式测量法
检测设备：2D轮廓扫描仪、3D光学干涉仪

服务项目：
FAI（产品件检验） 
TVR（模具验证） 
CpK （制程能力验证及分析） 
GR&R (量测能力验证及分析）
普通尺寸检测
形位公差检测
成都检测中心拥有一批高精密度的大型检测设备和一批训练有素的检测的团队,能够为客户提供的尺寸检测与形位公差检测服务。
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