铜仁逆向工程尺寸测量检测机构

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形位公差检测
零件结构的几何形状和相对位置是由形状公差和位置公差来保证。对某些精度要求较高的零件，不仅需要保证其尺寸公差，而且还要保证其形位公差。
形位公差可为分为形状公差和位置公差。
形状公差包括直线度、平面度、圆度、圆柱度、线轮廓度、面轮廓度。
位置公差包括
定向公差（平行度、垂直度、倾斜度）
定位公差（同轴度、对称度、位置度）
跳动公差（圆跳动、全跳动）
主要服务项目：
表面粗糙度测量（Rz、Ra、Rq、Rv、Sa、Sz等参数）；
波纹度检测；
机械加工、表面处理等制程；
轮廓尺寸测量、轮廓尺寸验证；
表面失效/缺陷尺寸分析（划痕、白点、表面雾化等）；
微观尺寸测量（长宽高、半径、面积、体积等）；
透明/半透明膜厚测试；
3D微观表面扫描、3D微观表面缝合扫描；
非常规尺寸测量（微小部件圆角半径、倒角塌边等）；
粉末颗粒粒径测量；
产品加工刀纹尺寸测量等。

表面粗糙度参数含义
Ra评定轮廓算术平均偏差：在一个取样长度内纵坐标值的的算术平均值。
Rz轮廓大高度：在一个取样长度内，大轮廓峰高与低轮廓谷深之间的距离。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十点高度’。）
Rt轮廓总高度：在评定长度内大轮廓峰高和低轮廓谷深之间的距离。（由于评定长度≥取样长度，故Rt≥Rz）
Sa评定表面算术平均偏差:在取样面积内纵坐标的的算术平均值。（3D光学干涉法测量出的面粗糙度，适用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq评定轮廓的均方根差：在一个取样长度内纵坐标的均方根值。
测量方法：探针接触式测量法、光学干涉非接触式测量法
检测设备：2D轮廓扫描仪、3D光学干涉仪

服务项目：
FAI（产品件检验） 
TVR（模具验证） 
CpK （制程能力验证及分析） 
GR&R (量测能力验证及分析）
普通尺寸检测
形位公差检测

表面粗糙度检测
表面粗糙度是指加工表面具有的较小间距和微小峰谷的不平度 。其两波峰或两波谷之间的距离（波距）很小（在1mm以下），它属于微观几何形状误差。
影响：表面粗糙度与机械零件的配合性质、耐磨性、疲劳强度、接触刚度、振动和噪声等有密切关系，对机械产品的使用寿命和可靠性有重要影响。
作用：生产过程控制、预测工件的表现、零件的性能
表面粗糙度参数：Ra、Rz 、Rp 、Rv、Sa、Sz等
都检测中心3D验证实验室配备有目前市场上的扫描设备ATOS，利用光学拍照定位技术和光栅测量原理及其特的自动拼接技术，拓展出对曲面的检测和外观缺陷分析的能力。同时延伸出逆向工程、机构设计，以满足市场需求。
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